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原位掃描電鏡-掃描電鏡顯微鏡原理-電子顯微鏡原理

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡

產品分類:原位掃描電鏡

品牌:澤攸科技
型號:ZEM15

加速電壓:1-15kV連續可調
探測器種類:二次電子探測器、背散射電子探測器、能譜儀
放大倍數:150000x
拉伸臺載荷大小:1000N
加載功能:拉伸、壓縮、彎曲

產品詳情 | PRODUCT DETAILS

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內連續可調,搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺,實現掃描電鏡內的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

電鏡主機特色


鼠標.jpg僅需鼠標即可完成所有操作,無須對中光闌等復雜步驟;

亮度/對比度一鍵自適應,自動/手動聚焦;


視頻模式.jpg抽真空時間小于90秒;

標配光學導航,搭配多樣品臺,實現快速找樣及切換樣品;


采集帶寬.jpg信號采集帶寬10M,掃描速度快;

視頻模式下實時觀察樣品,操作流暢,無卡頓;


多探測器.jpg四分割背散射電子探測器(多種成像模式)、二次電子探測器;

BSE+SE 模式(任意比列混合)、集成EDS元素分析功能;


無憂售后.jpg國內生產、銷售、售后一體化服務;

北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設備演示;


原位拉伸臺參數

 

載荷范圍:0-1000N

位移分辨率:20nm

加熱模塊:可選

加載功能:拉伸、壓縮、三點彎曲